一、概述
3D物位掃描儀以其獨特的三維立體掃描技術，為客戶提供了在高粉塵等嚴峻工況條件下的完善角解決方案，APM公司3D物位掃描儀是迄今為止可實際投入工業領域應用特有的一種可以準確檢測固體物位、體積和質量的*和成熟技術，而且不受物料種類、物化性能，物料貯存料倉材質，露天開倉和料倉形狀和尺寸的影響，適用于惡劣的物料貯存環境，用物位監測水平*了新的高度。
3D物位掃描儀利用三個信號傳送器發射低頻脈沖，并接收來自筒倉、露天開放倉、不規則料倉內物料表面的脈沖回波，并監測到每個回波的時間、距離和方向。信號處理器對接收到的信號進行取樣、分析、轉換，并繪制出直觀精準的三維立體圖像，反應出料倉內物料真實的物位、體積和質量等實際分布狀況，并在遠程電腦終端上顯示出來。 3D物位掃描儀含有獨特的自潔功能可防止物料黏附在設備內表面，從而可以在工況條件惡劣的物料貯存環境下，以極低的維護量進行長期穩定的工作，使物位監測水平提高了新的高度，為客戶提供了在高粉塵等嚴峻工況條件下測量過程物位、體積測量，質量測量的測量方案。
二、 APM 公司簡介
APM Automation Solutions (APM)公司 位于以色列特拉維夫工業園 ，2005年公司成立3D物位測量研究機構。在2006年開發3DLevelScanner(TM) ，經過在歐美地區的2年實踐經驗，結合獨特三維技術可研性開發，公司在原有的基礎上再次研發出第二代3DLevelScanner(TM)物位體積掃描儀，為需要進行此類測量的公司在測量精度和設備實用性方面帶來了突破性的改革，解決了目前測量物位的缺陷，彌補了物位測量的不足之處。
APM自動化方案解決有限公司是3D物位掃描儀唯一生產廠商，是生產測量物料體積和物位儀表的開拓者和建設者。公司的旗艦產品——3D物位掃描儀系列的誕生，標志著在密閉或開放的筒倉里都可以用3D成像技術*的顯示出被測量的物料的體積和物位。它融合了APM獨特的技術，以一系列三維成像的手法解決了原來無法解決的高難度的物料的測量問題，為工業制造企業提供了獨特可靠的過程物位和體積測量解決方案。
三、 產品型號
APM公司目前在世界范圍內推出了四種型號的產品，這四種型號的產品都是APM公司3D掃描儀Ⅱ型產品，迄今為止是物位測量中的領軍產品。3D物位掃描儀的四種產品的型號分別是S、M、MV、MVL系統，它們的主要功能和區別如下：
3D掃描儀S型
采用30 °的波束角發射脈沖 ,測量平均體積、平均料位 ,適用于直徑小于4m的小型儲藏 ,可以形成映射點但是不能夠形成圖像
3D掃描儀 M型
采用70 °的波束角發射脈沖,能夠覆蓋更廣的物料表面 ,不僅可以測量平均體積,平均料位，而且還可以測量最大最小料位 ,適用于料倉直徑大于4m且小于15m的料倉或直徑小于15米的露天倉 ,可以形成映射點但是不能夠形成圖像。
3D掃描儀 MV型
采用70 °的波束角發射脈沖能夠覆蓋更廣的物料表面,不僅可以測量平均體積、平均料位，而且可以測量最大最小料位, 適用于料倉直徑大于4m且小于15m的料倉 ,可以形成映射點且能夠形成3D立體圖像。
3D掃描儀 MVL型
MVL型系統是在同一倉體上裝有兩個或兩個以上的MV型和一臺controller控制器共同組合而成的一個系統，該系統可以對大直徑料倉，開放倉進行測量，controller控制器的功能就是對從各個3D掃描儀采集的信號進行采集處理分析，然后將所有信號整合為統一的一個完整的信號送到PLC或DCS最終提供用戶，方便用戶的監控及控制。
以上四種型號采用低頻（3-10KHZ）測量，都具有更好的粉塵穿透能力,測量范圍均可達70m,且可以在嚴峻的惡劣工況環境下正常穩定的工作.
